（1）结晶度Wc的表征
　　国际应用化学联合会（IUPAC）1988粘推荐用W_c，a表示质量分率结晶度，下标c为结晶度，另一下标字母a代表用不同方法测得的质量分率结晶度，方法不同下标a将分别是其他字母。

　　①广角X射线衍射（WAXS）测聚合物结晶度W_c，x
    用广角X射线衍射仪，对样品做出不同2θ角的衍射曲线，将衍射曲线的峰分解为结晶峰面积和非晶区面积，结晶峰面积与总衍射面积之比，即为W_c，x（下标x代表X射线衍射方法）

　　②密度测量法计算聚合物的结晶度W_e，d
    在密度梯度管中配置自上而下密度连续变化的密度梯度液体，并用标准密度的玻璃小球标定密度梯度管不同位置高度的密度值，将待测聚合物样品投入标定后的密度梯度管中，测出聚合物样品的密度，其倒数即为聚合物样品的比容 。再用X射线衍射测得的该聚合物的晶胞参数，计算得到该聚合物“纯晶体“的比容 ；由膨胀计法测定不同温度下该聚合物熔体的密度，外推到聚合物样品测密度时温度下该聚合物非晶区的比容，按下式计算结晶度：（有时聚合物的，值可从专业手册中查到）                                     

　　③量热法计算聚合物的结晶度的Wc,h
    用示差扫描量热仪（DSC），测定聚合物样品的熔融热焓（熔融峰的面积）ΔH_m，从手册中查找该聚合物100％结晶时的熔融热焓值ΔHm标准，则

ΔH_m标准也可采用下述方法求得，即用其他方法（如广角X光衍射法WAXD，密度法等）已测得结晶度的该类聚合物的不同样品，分别用DSC法测不同样品的熔融热焓，以测得的熔融焓ΔH_m值对结晶度作图，外推到100％结晶度时的熔融热焓值即为ΔH_m标准。

（2）结晶形态、晶体尺寸及晶胞参数的表征。
　　①偏光显微镜(PLM)法
用偏光显微镜观察聚合物晶体的形貌，可以观察聚合物单晶、球晶、树枝状晶、伸直链片晶、横晶(transcrystalline)以及串晶(shish-kebab)等晶体的形貌。偏光显微镜的最佳分辨率为200nm，有效放大倍数在500-1000倍。
　　②高分辨透射电镜法
用高分辨透射电镜（样品要制作得极薄），可以观察到聚合物晶体的结构象。
　　③原子力显微镜（APM）法
用原子力显微镜可测量晶体切面的三维形貌。
　　④小角x射线散射（SAXS）法

用小角x射线散射法可测量聚合物中结晶颗粒的尺寸大小，尺寸分布及晶粒形状。
　　⑤小角激光光散射技术（SALS）
用小角激光光散射技术可以测量聚合物薄膜、纤维固体样品中结晶颗粒的平均粒径。
　　⑥高分辨透射电镜电子衍射结构分析法
用高分辨透射电镜（样品要制作得极薄），采用原位倾转电子衍射结构分析的方法，取样品不同倾转方向时的衍射图和它们的几何关系，通过测量和计算，确定聚合物微单晶的晶胞参数。
　　（3）结晶速率和结晶动力学研究。
　　用示差扫描量热法（DSC）研究聚合物结晶速率和结晶动力学有两种方法，即等温法和非等温法。等温法的研究方法是，将样品在DSC中加热到其熔点以上，稍恒温后迅速降至样品的结晶温度，维持等温，记录的DSC热谱图上开始出现结晶放热峰曲线，实验后DSC仪将给出不同结晶时间完成的结晶数量份数。经数据处理，可得到相应结晶温度时的结晶速度常数K值，结晶活化能E值和频率因子A值。非等温法给出的结晶数据更具实际意义，但数据处理相对较为复杂。
　　（4）结晶过程观测
　　①偏光显微镜(PLM)法
用偏光显微镜观测聚合物的结晶过程，将聚合物样品熔融压成薄片，放置于配有热台的偏光显微镜下，在一定温度下恒温观察样品的结晶过程。目镜视野将由暗场，逐渐出现小亮点，小亮点逐渐长大，这是聚合物由出现晶核到晶体增长的过程。用目镜数尺记录不同时间聚合物晶体的尺寸变化，可定性求出晶体的生长速度。
　　②共振模式原子力显微镜（TM-AFM）法
用共振模式原子力显微镜观察聚合物的晶体生长过程。由于共振模式原子力显微镜分辨率高，能记录晶体生长的实时图像，可以观测到晶体形成时的初始过程，因此对研究结晶机理可以提供十分有用的数据。