德祥集团成功参加2009中国环境科学学会学术年会暨武汉国际环境科学与技术会议

    2009年6月27-30日在湖北省武汉市举办“2009中国环境科学学会学术年会暨武汉国际环境科学与技术会议”。以华人环境科学家为主体的100-150位国际环境科学家参加会议，学术年会得到了国家环境保护部、中国科协、湖北省环保局、美国环保局（EPA）、中国旅美科技协会、环球中国环境专家协会、美国国家环境毒理研究中心等部门和机构的支持。 
     德祥公司在此次学术年会中向各界环境用户推荐了美国Innov-X System现场环境污染监测技术和土壤原位测试技术。德祥公司亚太区经理梅女士结合美国EPA 6200方法，在土壤污染控制与修复专场和固体废弃物处理及资源化利用技术专场全面介绍了便携式X射线荧光光谱仪(XRF)在环境污染监测、控制和评估中的应用进展，尤其是美国Innov-X System全球首家推出的GPS-GIS-XRF数据自动集成技术，现场用户反响热烈，预期便携式XRF作为一种快速环保的绿色检测技术，结合行业领先的地理测绘技术Trimble GPS (全球卫星定位系统)和ESRI GIS(地理信息系统)，在当前广泛开展的环境重金属污染监测和分布统计工作中发挥积极的作用。